- 全球安裝數量超過3000套 Helios systems
- 支援最高速度 – 600m/min
- 霧度（Haze）偵測
高解析度對視覺的差異
先進光源系統
色彩品質保證：
若 ΔE（色差）值超出設定上限，系統將發出警示。
工作流程整合：
提升缺陷材料剔除效率（加速瑕疵移除作業）(此項屬於如圖片)
上光（Varnish）檢測
100% 上光檢測模組可用於各類印刷基材（如軟性薄膜、紙盒、紙張等）上透明上光/塗佈的可視化與檢查。可檢測上光套印不準（mis-register）、上光漏印/誤印（misprint）、以及非上光區域的上光飛濺/溢出等多種缺陷
JobRef：
在開機/換單設定階段，透過自動將作業內容與原始、經客戶核准的數位 PDF 檔比對，達成工單/作業驗證。
- 可辨識透明標籤（clear label）缺漏或不完整，並停止復捲機，以維持一致的品質。
- 操作介面友善、易於使用
一看就懂的報告系統
Helios Ultra
無論寬幅或速度為何，皆可在 65 微米 下同時兼具 高速 與 高解析度